工厂低价转让一台日本日立品牌FT9500/9300模厚测试仪

技术参数：

型号

FT9500

FT9550

FT9500L

测量元素

Al（13）～Bi（83）

X射线源

管电压：50（可变更）kV

管电流：10～1000 μA

检测器

半导体检测器（无需液氮）

X射线聚光

聚光导管方式

样品观察

CCD摄像头（带变焦功能）

对焦

激光对焦

滤波器

一次滤波器：3个位置（自动切换）

样品区域

X:240mm, Y:175mm

X:220mm, Y:150mm, Z:150mm

X:420mm, Y:330mm

X:400mm, Y:300mm, Z:50mm

X:840mm, Y:540mm

X:400mm, Y:300mm, Z:50mm

测量软件

薄膜FP法（5层、10种元素）、检量线法、块体FP法（材料组成分析）

功能

样品门联锁

1.薄膜及多层膜测量

通过采用新型的毛细管（X射线聚光系统）和X射线源，把与以往机型FT9500同等强度的X射线聚集在30 μmΦ的极微小范围。因此，不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。

同时，也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。

2.异物分析

通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合，可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线，通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析（Al～U）。

3.数据编辑功能

配备了Microsoft Excel和Microsoft Word。在Microsoft Excel上面配备了统计处理软件，可以进行测量数据、平均值、/小值、C.V.值、Cpk等的统计处理。 另外，通过Microsoft Word可以简单的制作包含了样品画图的测量报告书。

4.高强度照射

通过高强度照射在微小部分也可以鲜明的观察、聚焦位置。

5.样品工作台

配备等同与FT9550X的大型样品台，能够对大型线路板等样品进行整体排列测量对应。

详情欢迎来工厂看机地址：广东东莞市茶山镇增卢路新益大厦（集友工业村对面）宏诚光学