HS-CA2半自动硅片厚度TTV测试仪
特征
适用于硅片等各种材料的厚度TTV测量
测量范围：0～2mm
分辨率：0.1μm
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC面板操作
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示厚度、TTV、平均值和统计偏差
电源：AC 220V 50Hz
免费店铺在线升级
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HS-CA2半自动硅片厚度TTV测试仪
特征
适用于硅片等各种材料的厚度TTV测量
测量范围：0～2mm
分辨率：0.1μm
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC面板操作
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示厚度、TTV、平均值和统计偏差
电源：AC 220V 50Hz
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